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真空卡盤的典型應(yīng)用場景介紹

 更新時(shí)間:2026-01-07 點(diǎn)擊量:63

真空卡盤是半導(dǎo)體制造及加工領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的晶圓固定裝置,其通過真空吸附原理實(shí)現(xiàn)晶圓的穩(wěn)定固定。

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  一、真空卡盤的核心特點(diǎn)

  非接觸式固定,避免物理損傷

  真空卡盤通過表面微孔形成均勻的真空負(fù)壓,將晶圓吸附在卡盤表面,無需機(jī)械夾爪或邊緣接觸,消除劃傷、污染或邊緣破損風(fēng)險(xiǎn),尤其適合超薄晶圓或易碎材料(如玻璃、化合物半導(dǎo)體)的加工。

  吸附力均勻,穩(wěn)定性高

  卡盤表面分布數(shù)百至數(shù)千個(gè)微孔,通過真空泵抽氣形成負(fù)壓,吸附力分布均勻,可有效晶圓在高速旋轉(zhuǎn)(如化學(xué)機(jī)械拋光CMP)或振動環(huán)境(如探針測試)中的位移,確保加工精度。

  結(jié)構(gòu)簡單,成本可控

  相比靜電卡盤或伯努利卡盤(需高壓氣流系統(tǒng)),真空卡盤結(jié)構(gòu)更為簡單,主要由卡盤本體、真空通道和密封圈組成,制造成本較低,維護(hù)方便。

  兼容性強(qiáng),適用范圍廣

  可適配不同尺寸(如2英寸至12英寸)和材質(zhì)(如硅、砷化鎵、藍(lán)寶石)的晶圓,且對表面平整度要求相對寬松,適用于多種加工場景。

  溫度控制靈活

  部分真空卡盤集成溫控模塊(如加熱/冷卻通道),通過循環(huán)介質(zhì)(如水或油)實(shí)現(xiàn)晶圓溫度調(diào)節(jié),支持三溫測試(低溫、常溫、高溫)等復(fù)雜工藝需求。

  二、真空卡盤的典型應(yīng)用場景

  半導(dǎo)體制造前道工藝

  光刻工藝:在曝光前固定晶圓,確保光刻膠涂布均勻性,避免因晶圓移動導(dǎo)致圖形失真。

  刻蝕工藝:在等離子體刻蝕或濕法刻蝕中固定晶圓,防止高能粒子或化學(xué)溶液沖擊導(dǎo)致晶圓偏移。

  薄膜沉積:在物理氣相沉積(PVD)或化學(xué)氣相沉積(CVD)過程中,為晶圓提供穩(wěn)定支撐,確保薄膜厚度均勻性。

  半導(dǎo)體測試環(huán)節(jié)

  探針臺測試:在晶圓測試(Wafer Probing)中,真空卡盤固定晶圓并配合載物臺實(shí)現(xiàn)多測試點(diǎn)定位,支持參數(shù)測試、故障分析(FA)等場景。

  三溫測試:集成溫控功能的真空卡盤可模擬芯片在實(shí)際工作中的溫度條件(-60℃至+300℃),評估其可靠性與穩(wěn)定性。

  優(yōu)良封裝與微組裝

  晶圓級封裝(WLP):在倒裝芯片(Flip Chip)或扇出型封裝(Fan-Out)中,真空卡盤固定晶圓以實(shí)現(xiàn)高精度鍵合或再布線層(RDL)加工。

  微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)制造:固定微小結(jié)構(gòu)(如傳感器、執(zhí)行器)晶圓,避免加工過程中因振動導(dǎo)致結(jié)構(gòu)損壞。

  其他加工領(lǐng)域

  光學(xué)元件加工:固定玻璃、晶體等光學(xué)材料,支持高精度拋光或鍍膜工藝。

  平板顯示制造:在液晶面板(LCD)或有OLED生產(chǎn)中,固定玻璃基板以實(shí)現(xiàn)薄膜晶體管(TFT)陣列加工。

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